高压脉冲电容器电容量漂移影响的实验研究

• 作者: 于成龙 叶海福 姚永和
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 高压脉冲电容器 电容量 贮存环境 容量漂移
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: TM5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2007.01.004

摘要

针对不同贮存环境对高压脉冲电容器电容量漂移的影响进行了长期对比实验研究.采用同一批次同一型号高压脉冲电容器,随机抽取组合成实验对比组.通过观测,发现该型号高压脉冲电容器电容量的漂移与贮存环境温度的关系密切;与自然光照的关系并不明显;在同样的贮存环境下,与未加任何保护的实验对比组相比较,使用硅胶灌注的实验对比组电容量的漂移速度明显平缓,特别在贮存环境温度较低时,硅胶灌注对高压脉冲电容器电容量的漂移有明显的减缓作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶海福	中国工程物理研究院电子工程研究所	14	43	3.0	5.0
2	姚永和	中国工程物理研究院电子工程研究所	7	18	3.0	3.0
3	于成龙	中国工程物理研究院电子工程研究所	14	110	6.0	10.0