BES Ⅲ飞行时间计数器前端电子学测试系统设计

• 作者: 刘树彬 安琪 封常青 李浩 郭建华
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: TOF FEE 虚拟仪器 VISA SCPI VME
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 先进探测仪器及方法
• 页码范围: 610-614
• 页数: 5页
• 分类号: TL8|TP2
• 字数: 3906字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2007.07.014

摘要

BESⅢ的TOF前端电子学(Front End Electronic,FEE)共有488个通道,如何快速地测试所有的FEE通道是个亟待解决的问题.本文详细描述一个基于网络互联的虚拟仪器测试系统,利用该系统可以实现对TOFFEE进行测试,较快速地得出FEE的相关指标.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	安琪	中国科学技术大学近代物理系快电子学实验室	57	549	14.0	20.0
2	刘树彬	中国科学技术大学近代物理系快电子学实验室	37	264	9.0	14.0
3	李浩	中国科学技术大学近代物理系快电子学实验室	64	498	10.0	21.0
4	郭建华	中国科学技术大学近代物理系快电子学实验室	10	76	4.0	8.0
5	封常青	中国科学技术大学近代物理系快电子学实验室	7	25	3.0	4.0