Intel 8254在智能相位测量仪中的应用

• 作者: 谭永红 雷跃
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 可编程计数/定时器 读回命令 相位测量
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 49-51
• 页数: 3页
• 分类号: TM93
• 字数: 1628字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2007.02.013

摘要

本文介绍8254可编程计数/定时器的内部结构、基本功能并举例说明8254在一个以单片机为核心的低频数字式相位测量仪中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭永红		8	46	3.0	6.0
2	雷跃		8	50	4.0	7.0