基于LOG-Zernike算子的快速图像测量

• 作者: 葛继
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: LOG算子 Zemike矩 标定 亚像素定位 图像测量
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 图像与信号处理
• 页码范围: 63-67,113
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 2925字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2007.03.014

摘要

图像测量技术,一个很重要的方面就是图像的边缘检测定位,而边缘定位的准确与否又直接影响到测量的精度.常用的检测算法都是像素级的,对测量要求较高的场合无法满足要求.定位速度一直是边缘检测算法的一大瓶颈,本文正是在保证一定精度的前提下,研究了快速图像测量算法,即运用LOG算子先对工件进行快速边缘定位,在此基础上采用zernjke矩法将精度提高到亚像素级.为了得到实际的测量尺寸,应用块规进行了系统标定并进行了一系列测量实验,实验结果表明该方法定位精度接近于Zernike矩法,且算法的运行对间大约在1.5s左右.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛继	江西理工大学应用科学学院	10	102	4.0	10.0