原子发射光谱双谱线法测量半导体桥(SCB)等离子体温度

• 作者: 冯红艳 吴蓉 张琳 朱顺官 李艳 王俊德
• 来源期刊: 含能材料
• 学科: 化学
• 关键词: 应用化学 SCB等离子体 原子发射光谱法 温度测定
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 134-136,147
• 页数: 4页
• 分类号: YJ55|O657.31
• 字数: 1407字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9941.2007.02.012

摘要

在原子发射光谱双谱线法的基础上,设计了含有两个干涉滤光片和光电倍增管双谱线测温系统.仪器的最高的时间分辨率为0.1μs.讨论了不同能量输入条件下SCB等离子体的温度和等离子体的存在时间.实验结果表明在电压24～32 V,电容68μF不变的情况下,等离子体的温度从2710 K升高到3880 K,等离子体存在时间从170.7μs上升到283.4μs.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱顺官	南京理工大学化工学院	69	437	10.0	18.0
2	冯红艳	南京理工大学化工学院	18	229	7.0	15.0
3	吴蓉	南京理工大学化工学院	5	179	4.0	5.0
4	王俊德	南京理工大学化工学院	65	1146	19.0	30.0
5	张琳	南京理工大学化工学院	67	748	13.0	25.0
6	李艳	南京理工大学化工学院	12	92	4.0	9.0