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摘要:
叙述了射线检测在某型号电位器的故障分析中发挥的重要作用,通过实践证明,选择适当的工艺参数及正确的透照方向,可以对该类元器件进行无损检测筛选.
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文献信息
篇名 某型电位器射线检测技术研究
来源期刊 无损探伤 学科 工学
关键词 电位器 X射线检测 透照
年,卷(期) 2007,(4) 所属期刊栏目 NDT之窗
研究方向 页码范围 42-43
页数 2页 分类号 TG115.28
字数 1731字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-4423.2007.04.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡文杰 2 9 1.0 2.0
2 张毅 3 1 1.0 1.0
3 徐珊珊 2 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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2007(0)
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研究主题发展历程
节点文献
电位器
X射线检测
透照
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
无损探伤
双月刊
1671-4423
21-1230/TH
大16开
辽宁省丹东市春三路23号
8-189
1977
chi
出版文献量(篇)
1937
总下载数(次)
10
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