用岩性密度测井估算套管的厚度

• 作者: 吴文圣 肖立志
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: 岩性密度测井 套管井 套管厚度 光电吸收截面指数 MCNP程序
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 185-188
• 页数: 4页
• 分类号: P631
• 字数: 1089字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2007.03.007

摘要

为了在套管井用岩性密度测井中估算套管厚度,本文利用Monte Carlo计算程序MCNP,对不同矿物成分的地层,计算得到了散射γ能谱的低能谱段计数NS与高能谱段计数NH的比值NS/NH与地层光电吸收截面指数R、套管厚度HC的关系.得出了在套管井中,岩性密度测井对地层岩性不敏感,不能用NS/NH来求取地层的光电吸收截面指数P,但NS/NH与套管厚度在双对数坐标上呈很好的线性关系,因此,可以利用裸眼井中岩性密度测井方法,即利用比值NS/NH来估算套管厚度HC.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖立志	中国石油大学资源与信息学院	52	782	14.0	26.0
2	吴文圣	中国石油大学资源与信息学院	12	39	4.0	5.0