电磁辐射对原代培养海马神经元的损伤效应及其机制探讨

• 作者: 左红艳 张志毅 张飒 彭瑞云 王德文 王水明 胡文华 董波 高亚兵
• 来源期刊: 生物物理学报
• 学科: 医学
• 关键词: 电磁辐射 海马神经元 原代培养 损伤机制
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 神经生物物理
• 页码范围: 47-53
• 页数: 7页
• 分类号: R3
• 字数: 4305字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6737.2007.01.006

摘要

研究X带高功率微波、S带高功率微波及电磁脉冲辐射对原代培养海马神经元的损伤效应并探讨其机制.通过体外培养原代海马神经元,建立电磁波辐照细胞模型.采用Annexin V-PI双标记、流式细胞术检测细胞凋亡与坏死,原子力显微镜检测细胞膜表面形态,Fluo-3-AM荧光探针负载、激光扫描共聚焦显微镜测定胞内[Ca2+]i.结果表明,辐射后海马神经元凋亡与坏死均增加,其中坏死增加明显;细胞膜表面粗糙度加大,膜穿孔增多;胞内[Ca2+]i明显升高.且以上变化均以X带高功率微波组最重,S带高功率微波组次之,电磁脉冲组最轻.提示细胞膜穿孔增多,膜通透性增加,导致胞外Ca2+内流增加,甚至胞内钙超载是辐射致海马神经元凋亡与坏死的机制之一;三种电磁辐射对海马神经元的损伤程度与照射频率呈正相关.