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摘要:
针对排除芯片设计流程中RTL级的错误时,需要花费大量时间看仿真波形与日志文件的问题,本文介绍了基于断言的硬件功能验证技术的基础,以及利用断言技术在黑盒验证中测试一设备输出信号时的应用,总结了断言验证的优点,以及断言与半形式化验证结合的特点,断言技术与动态仿真、形式验证、激励自动生成等技术结合,能更快更有效的发现硬件设计过程中RTL级的错误,成为验证方法学的焦点.
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时序特性
因果特性
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于断言的硬件功能验证技术
来源期刊 电子测试 学科 工学
关键词 断言 OVA(open vera assertion) ABV 形式化验证
年,卷(期) 2007,(10) 所属期刊栏目 设计与研发
研究方向 页码范围 51-53
页数 3页 分类号 TP3
字数 2171字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8519.2007.10.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杜宁 12 48 5.0 6.0
2 吴国增 山东聊城大学东昌学院 2 6 1.0 2.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
断言
OVA(open vera assertion)
ABV
形式化验证
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
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