双介质谐振器法测量超导薄膜的表面电阻

• 作者: 刘润宝 彭慧丽 曹必松 李宏成 魏斌
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 介质谐振器 高温超导薄膜 表面电阻 品质因素 双介质谐振器法
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 77-80
• 页数: 4页
• 分类号: TN62|O51
• 字数: 2585字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2007.01.018

摘要

介绍了清华大学物理系研制的一个测量高温超导薄膜微波表面电阻的系统,展示了测量的原理和过程.本系统是按照目前国际上高温超导薄膜的微波表面电阻的测量标准方案(ICE/TC90)选定的 TE011- TE013双介质谐振器法来对超导薄膜进行测量.介质谐振器谐振的中心频率约为11.96 GHz,具有很高的准确性和灵敏度.在液氮(77 K)温度下,用物理所提供的两片YBCO薄膜测量,TE011和TE013模式的无载Q值分别达到5.57×10 5和1.51×10 6, 就我们所知,这是国内所报道的最高Q值.其Rs(77 K,10 GHz)平均值为263微欧.因此,本系统可以较为准确地测量表面电阻很小(300微欧以下)的高温超导薄膜.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏斌	清华大学物理系	47	298	9.0	16.0
2	曹必松	清华大学物理系	40	77	3.0	6.0
3	彭慧丽	清华大学物理系	9	7	2.0	2.0
4	刘润宝	清华大学物理系	1	1	1.0	1.0
5	李宏成	清华大学物理系	3	1	1.0	1.0