测量接地电流检测合成绝缘子污秽程度的可行性分析

• 作者: 孟凡凤 李彦明 李香龙 汲胜昌
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 合成绝缘子 接地电流 泄漏电流 污秽程度
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 分析与测试
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: TM26|TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2007.01.020

摘要

通过对合成绝缘子体泄漏电流和表面泄漏电流分离测量,研究了合成绝缘子接地电流的特性,并将这两种泄漏电流与整体接地电流进行比较,同时分别研究了洁净和污秽合成绝缘子的接地电流.结果表明,污秽合成绝缘子整体接地电流与表面泄漏电流在幅值和波形上相同,因此可以通过测量绝缘子接地线上的电流来检测合成绝缘子的污秽程度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李彦明	西安交通大学电气学院	273	7763	48.0	71.0
2	汲胜昌	西安交通大学电气学院	131	2517	28.0	45.0
3	李香龙	西安交通大学电气学院	8	244	7.0	8.0
4	孟凡凤	西安交通大学电气学院	12	261	10.0	12.0