基于CCD的中子数字照相系统成像速度分析

• 作者: 唐彬 李西安 薛斌 霍合勇
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 射线检验 中子照相 CCD 成像速度
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 39-41
• 页数: 3页
• 分类号: TG1
• 字数: 2454字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2007.01.011

摘要

成像速度是中子冷阴极放电器(CCD)数字照相系统的主要性能参数.根据中子数字照相的原理、光学成像的基本关系式和CCD的特性,提出了一种基于CCD的中子数字照相系统的成像速度理论推算方法,对SPRR-300中子数字照相系统成像速度进行了计算,并与试验结果相比较证明,理论计算与试验基本吻合,计算方法可信.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐彬	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	59	173	8.0	10.0
2	李西安	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	3	18	2.0	3.0
3	霍合勇	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	25	44	4.0	5.0
4	薛斌	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	2	13	2.0	2.0