影响聚酰亚胺/二氧化硅纳米杂化薄膜聚集态结构的因素

• 作者: 张明艳 牛颖 陈安营
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 聚酰亚胺 二氧化硅 溶胶-凝胶 偶联剂 水含量
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 研制与应用
• 页码范围: 1-3,7
• 页数: 4页
• 分类号: TM215|TQ323.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2007.05.001

摘要

以正硅酸乙酯(TEOS)为无机前驱体,采用溶胶-凝胶(Sol-Gel)路线制备了聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO2)纳米杂化薄膜.利用傅立叶变换红外光谱(FT-IR),扫描电子显微镜(SEM)等手段表征了PI/SiO2的杂化薄膜的化学结构和微观形貌,讨论了硅烷偶联剂和加入的水量对PI/SiO2纳米杂化薄膜聚集态结构的影响.研究结果表明,偶联剂的加入提高了有机相与无机相的相容性.加入不同的水量对PI/SiO2杂化薄膜聚集态结构产生不同的影响.当TEOS与加入的水量摩尔比为1:6时,团聚的SiO2粒子的平均尺寸小于20 nm,有机相与无机相无明显界面.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明艳	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	65	507	13.0	18.0
2	牛颖	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	3	33	3.0	3.0
3	陈安营		1	7	1.0	1.0