一种高g值微冲击开关的研制

• 作者: 杨黎明 陈光焱
• 来源期刊: 爆炸与冲击
• 关键词: 固体力学 冲击响应 微机电系统 冲击开关 高g值
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 190-192
• 页数: 3页
• 分类号: O347|TJ4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-1455.2007.02.016

摘要

采用微机电系统(MEMS)技术设计制作了一种微冲击开关,其敏感元件由悬臂梁支撑的质量块和其下的微触点构成.在冲击加速度作用下,质量块与触点碰撞实现接通.开关芯片体积为5 mm×5 mm×0.5 mm,动作门限3 000g,响应时间84 μs,能承受极端的高冲击而不破坏.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈光焱	中国工程物理研究院电子工程研究所	23	219	10.0	13.0
2	杨黎明	中国工程物理研究院电子工程研究所	16	91	5.0	9.0