高梯度真空绝缘子结构的模拟设计

• 作者: 刘列 吕志辉 屈立辉 徐启福
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 高梯度绝缘子 结构设计 Kapton 电子轨迹 数值计算
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 463-465,473
• 页数: 4页
• 分类号: TM854
• 字数: 3339字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2007.06.019

摘要

HGI是由周期性的导体层和绝缘层装配而成,周期长度、绝缘层与金属层厚度比例的改变都会影响绝缘性能.绝缘材料选定为Kapton,导体材料选定为无锈钢,导体层与绝缘层齐平,利用有限元软件对不同几何结构、不同外电场情况下的电子轨迹进行模拟.电子轨迹的数值模拟计算表明:①设计合理时,HGI中的周期性电场能够抑制电子崩的发展.其中周期长度0.2 mm,厚度比例为5的结构最有可能得到好的绝缘效果;②绝缘层为+45°结构时效果更好;③模拟软件本身有一定的局限性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘列	国防科技大学光电科学与工程学院	18	72	6.0	7.0
2	屈立辉	国防科技大学光电科学与工程学院	3	14	3.0	3.0
3	徐启福	国防科技大学光电科学与工程学院	5	28	3.0	5.0
4	吕志辉	国防科技大学光电科学与工程学院	2	4	1.0	2.0