光子成像计数技术及其新进展

• 作者: 张凯 魏继锋
• 来源期刊: 激光与光电子学进展
• 学科: 工学
• 关键词: 探测 多阳极通道阵列 电子轰击CCD 片上增益CCD
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 光电探测
• 页码范围: 27-32
• 页数: 6页
• 分类号: TN248.6
• 字数: 5300字
• 语种: 中文

摘要

介绍了光子成像计数技术的几种主要类型,并详细阐述了其中几种发展迅速且在该领域应用最为广泛的技术,对这些技术目前的发展现状和最新进展也作了详尽的介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张凯	中国工程物理研究院应用电子学研究所	138	1255	18.0	28.0
2	魏继锋	中国工程物理研究院应用电子学研究所	12	70	5.0	8.0