HMX,CL-20和DNTF自由基的光照检测

• 作者: 宋纪蓉 胡荣祖 赵凤起 马海霞
• 来源期刊: 火炸药学报
• 关键词: 分析化学 含能材料 自由基 自旋共振 HMX CL-20 DNTF
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TJ55|TQ031.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7812.2007.02.009

摘要

为研究含能材料热分解过程的瞬间性和安全性,运用电子自旋共振技术(ESR)检测了HMX,CL-20和DNTF的自由基,得到了它们在相同的光照强度和时间间隔中,各体系的电子自旋共振谱图.结果表明,DNTF在没有光照的情况下即会产生自由基,HMX和CL-20光照一定时间后有自由基产生.随着光照时间的延长,自由基逐渐增多,DNTF的自由基信号最强.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡荣祖		71	440	12.0	16.0
2	赵凤起		384	4375	31.0	48.0