介质参数对吸收体电磁散射影响的研究

• 作者: 冯克明 吕善伟 周沁 潘顺康
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 矩量法 雷达散射截面 电磁散射 +有耗介质散射
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 37-40,44
• 页数: 5页
• 分类号: TM21
• 字数: 1328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7202.2007.05.008

摘要

二维周期渐变微波吸收体由金属基体和涂敷有耗介质构成.有耗介质的厚度、介电常数和磁导率是影响吸收体电磁散射特性的主要因素,因此有必要分析这些参数对吸收体电磁散射特性的影响.根据吸收体的二维周期性结构特点,把分析介质参数对吸收体雷达散射截面(RCS)的影响简化成分析介质参数对涂敷导体二面角RCS的影响.利用矩量法给出涂敷导体二面角的RCS随介质参数变化的计算例子,并结合天线阵列技术算出最佳介质厚度时吸收体的RCS.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕善伟	北京航空航天大学电子信息工程学院	154	774	15.0	23.0
2	潘顺康		8	13	2.0	3.0
4	冯克明		33	122	6.0	10.0
5	周沁		25	66	5.0	7.0