二次成像法测定光具组的基点

• 作者: 刘竹琴 白泽生
• 来源期刊: 大学物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 光具组 基点 二次成像法
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 物理实验
• 页码范围: 44-45,48
• 页数: 3页
• 分类号: O435.2
• 字数: 1290字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0712.2007.08.013

摘要

介绍了用二次成像法确定两薄透镜组成的光具组基点的原理和方法,该方法测量精度较高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白泽生	延安大学物理与电子信息学院	80	530	13.0	21.0
2	刘竹琴	延安大学物理与电子信息学院	136	504	12.0	19.0