硅基片上的自组装双层磷脂分子膜层

• 作者: 刘妍 陈艳艳 靳刚
• 来源期刊: 纳米科技
• 学科: 工学
• 关键词: 椭圆偏振测量术 椭偏光学成像技术 双层磷脂膜
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 纳米器件与技术
• 页码范围: 22-26
• 页数: 5页
• 分类号: TP212
• 语种: 中文

摘要

研究了L-α-磷脂酰乙醇胺分子(PE)与去污剂分子摩尔数之比Rm(P)/m(D)对磷脂分子在固体硅片表面自组装成膜的影响.通过椭偏技术测定磷脂膜层厚度,结合磷脂膜层表面疏水角的变化、磷脂分子头部亲水、尾部疏水的性质及与蛋白质分子的作用条件,得到:随着Rm(P)/m(D)在PE溶液中的增大,PE膜层在硅基片上的存在形式由单层向双层逐渐过渡.当对硝基苯酯基-聚乙二醇-(1,2-双油酰基-3-甘油磷脂乙醇胺)分子(pNP-PEG-DOPE)与已固定的PE分子反应时,分子间形成双层膜的机制也从pNP-PEG-DOPE与单层PE分子膜层的直接吸附逐渐过渡到取代上层 PE分子并与下层PE分子吸附形成双层膜.