钛膜中氘氚浓度的弹性反冲法测量

• 作者: 丁伟 施立群 龙兴贵
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 钛膜 氘氚浓度 弹性反冲探测
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 734-737
• 页数: 4页
• 分类号: TL5|TL8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2007.06.022

摘要

研究采用弹性反冲探测(ERD)方法测量钛膜中氘、氚的浓度.实验所用Ti膜用磁控溅射法制备,膜厚小于100 nm,以石英玻璃(SiO2)为底衬,Ti膜加镀了1层Ni保护膜,以防Ti膜氧化和增强Ti膜吸氢.以6.0 MeV O粒子作为入射粒子,在30°方向上探测反冲粒子,在此实验条件下,O粒子对D、T的碰撞截面为卢瑟福截面.对两个样品用ERD方法测量钛膜中的D、T含量,获得了D、T的面密度.测量结果表明,采用如上方法测量Ti膜中D、T浓度的误差小于7%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙兴贵	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	123	496	10.0	16.0
2	丁伟	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	16	45	5.0	6.0
3	施立群	复旦大学现代物理研究所	21	73	5.0	8.0