O+阴极低发射不良的分析和改善

• 作者: 尹涵春 殷泓 阮明兵
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 彩色显像管 阴极 低发射 不良品分析
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 1525-1528
• 页数: 4页
• 分类号: TN141.3
• 字数: 2824字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.04.102

摘要

2003年末和2004年初,华飞彩色显示系统公司使用O+阴极的生产线连续出现较高的低发射不良率,我们对这些批次发射不良问题作了研究和改善.经分析发现低发射阴极粉层表面可以见到大面积的变色,同时还有黑点,进一步分析又发现黑色斑点通常会在镍含量增加的情况下出现.文章分析了废品管发生发射不良的机理,并对分析推断的不良模型进行了模拟实验验证,最后利用分析推断结果,提出了针对性的改善方案,方案在生产中得到了验证,低发射问题得到解决.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹涵春		67	585	10.0	22.0
2	阮明兵		1	0	0.0	0.0
3	殷泓		1	0	0.0	0.0