深孔电极载体蒸馏光谱法测定化探样品中八个易挥发元素

• 作者: 熊艳
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 深孔电极载体蒸馏法 发射光谱 易挥发元素
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 425-427
• 页数: 3页
• 分类号: O657.31
• 字数: 3324字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2007.05.022

摘要

以碘化铵、硫酸钠、硫粉、碳粉、氧化钙、二氧化硅混合物为缓冲剂,深孔电极,截取曝光,以谱带背景作内标,一次摄谱同时测定化探样品中As、Sb、Bi、Ag、Pb、Cd、Tl、Sn等微量元素.方法精密度(RSD,n=10)为1.2%～5.0%,检出限为0.013～1.0 μg/g.方法经国家一级标准物质验证,测定结果与标准值基本相待.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊艳		1	17	1.0	1.0