C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究

• 作者: 刘杰 姚存峰 孙友梅 宋银 张崇宏 段敬来 王志光 金运范
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 结构稳定性 C60薄膜 快重离子 高密度电子激发效应
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 323-327
• 页数: 5页
• 分类号: O571.33
• 字数: 3268字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2007.04.021

摘要

用傅立叶变换红外光谱、X射线衍射谱、X射线光电子谱和拉曼散射技术分析了能量为GeV量级的S、Fe、Xe、和U离子,以及120keV的H离子在室温下辐照多层堆积C60薄膜的结构稳定性,即快重离子在C60薄膜中由高密度电子激发引起的效应,主要包括C60分子的聚合、分子结构的损伤、新的高温-高压相的形成和晶态向非晶态的转变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金运范	中国科学院近代物理研究所	38	183	9.0	12.0
2	刘杰	中国科学院近代物理研究所	218	1905	24.0	36.0
3	孙友梅	中国科学院近代物理研究所	31	115	7.0	9.0
4	王志光	中国科学院近代物理研究所	39	183	8.0	11.0
5	张崇宏	中国科学院近代物理研究所	50	169	7.0	11.0
6	宋银	中国科学院近代物理研究所	25	108	6.0	9.0
7	姚存峰	中国科学院近代物理研究所	10	31	3.0	5.0
8	段敬来	中国科学院近代物理研究所	10	56	3.0	7.0