创新设计的K-Alpha电子能谱仪

• 作者: 刘洁 刘芬 赵良仲
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: X射线光电子能谱 表面分析 荷电补偿 深度剖析 样品导航
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 仪器评介
• 页码范围: 53-56
• 页数: 4页
• 分类号: TH74
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2007.01.016

摘要

本文简单介绍新型高性能、一体化结构的K-Alpha型X射线光电子能谱(XPS)仪的主要特点,包括:全自动样品分析能力,先进的样品导航系统和摄像系统,独特的样品照明方式,用专利技术设计的样品荷电自动补偿装置,方便的谱仪自动校准功能,快速的XPS成像分析能力和高质量的深度剖析,紧凑的组装和小巧的体积,以及高性能价格比等等.这些特点相结合不仅简化XPS操作,而且提高XPS谱仪的分析能力和使用效率,满足用户对现代XPS分析的需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵良仲	中国科学院化学研究所	23	210	6.0	14.0
2	刘芬	中国科学院化学研究所	35	278	8.0	15.0
3	刘洁	北京师范大学分析测试中心	12	155	5.0	12.0