X荧光压片法在硅铁多元素分析中的应用

• 作者: 许厚国
• 来源期刊: 武钢技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光分析 压片法 硅铁
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 科研与生产
• 页码范围: 21-23
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.22+2
• 字数: 1263字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-4371.2007.06.006

摘要

采用X荧光压片法分析硅铁样品的方法,以一批硅铁标样和内控标样建立硅铁多元素分析曲线,以二次曲线方法应用于硅铁多元素的测定,取得满意的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许厚国		2	4	2.0	2.0