最新TFT源驱动器(10位以上)的测试要求以及解决方法

• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: 高速I/F对应 高精度灰阶测试 LCD上升波测试 高速演算灰阶数据 分析工具
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 测试
• 页码范围: 49-54
• 页数: 6页
• 分类号: TP3
• 字数: 2316字
• 语种: 中文

摘要

本文主要讲述了最新的TFT源驱动器(Source Driver)(10位以上)的测试要求,并结合日本横河电机公司的FPD测试系统ST6730,介绍了对应的测试解决方案.