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文献信息
篇名 泰瑞达(Teradyne)公司的J750Ex在SEMICON CHINA 2007上首次亮相
来源期刊 半导体行业 学科 工学
关键词 SEMICON 自动测试设备 泰瑞达公司 测试系统 能力提高 混合信号 器件测试 生产商
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 68,51
页数 2页 分类号 TN3-28
字数 语种 中文
DOI
五维指标
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引文网络
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2007(0)
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研究主题发展历程
节点文献
SEMICON
自动测试设备
泰瑞达公司
测试系统
能力提高
混合信号
器件测试
生产商
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体行业
双月刊
无锡市梁溪路14号
出版文献量(篇)
1222
总下载数(次)
6
总被引数(次)
0
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