纳米氧化铝杂化聚酰亚胺薄膜的制备与性能研究

• 作者: 刘伟 周宏 安军伟 范勇
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 聚酰亚胺 介电性能 耐电晕 氧化铝
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 材料研制
• 页码范围: 1-3,6
• 页数: 4页
• 分类号: TM215.3|TQ323.7|O484.42
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2007.02.001

摘要

由铝的纳米氧化物溶胶制得纳米氧化铝杂化的聚酰亚胺(PI)薄膜.对PI薄膜的耐电晕性进行了测试,结果表明氧化铝质量百分数为23%的PI薄膜在棒板电极系统、气隙间距0.1 mm、50 Hz、90 MV/m条件下耐电晕时间达120h以上.比纯PI薄膜提高30倍以上;使用介电谱仪测试其介电常数和介质损耗;采用FTIR、SEM分别表征了杂化PI薄膜与纯PI薄膜的化学结构和表面形貌.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘伟	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	8	78	5.0	8.0
2	范勇	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	70	539	13.0	18.0
3	周宏	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	20	127	7.0	10.0
4	安军伟	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	2	33	2.0	2.0