Be与CuCrZr中温热等静压扩散连接研究

• 作者: 周上祺 张鹏程 谌继明 谭佳梅
• 来源期刊: 核动力工程
• 关键词: Be CuCrZr 热等静压 扩散连接 界面特征
• 年，卷（期）: 2007,（z1）
• 所属期刊栏目: 材料
• 页码范围: 61-64,90
• 页数: 5页
• 分类号: TG512
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0926.2007.z1.016

摘要

本文采用扫描电子显微镜(SEM)、能谱仪(EDS)以及X射线衍射仪(XRD)等方法研究了Ti/Cu作为过渡层在580℃、140MPa时不同时间下热等静压扩散连接的Be/CuCrZr合金接头的界面特征.结果表明:Ti较好地阻挡了Be、Cu之间的互扩散,其向Cu中的扩散比向Be中扩散快,发生了不对称扩散;两个样品在靠近Cu端的扩散区内发生准解理断裂;Be侧断口α-Be为主要相,存在一定量的BeO和Ti,Cu合金端断口以Cu为主要相,时间长的样品断口含有一定量的Ti、Cu化合物和少量的Ti,时间短的样品金属间化合物生成很少,且其Cu镀层存在织构,具有各向异性,严重影响接头的结合强度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鹏程		35	135	7.0	8.0
2	周上祺	重庆大学材料科学与工程学院	85	912	16.0	27.0
3	谭佳梅	重庆大学材料科学与工程学院	3	10	2.0	3.0
4	谌继明		36	190	8.0	12.0