发光二极管失效分析

• 作者: 蔡伟智
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 发光二极管 失效分析 解剖 金相学
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 255-258
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 字数: 3930字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2007.03.020

摘要

基于发光二极管(LED)所具有的特点,系统地总结出一套发光二极管失效分析方法,并给出了几个典型失效分析案例,简要阐述了失效分析过程中的注意事项.通过失效分析,进一步优化和改善了LED的制造技术,达到提高质量和可靠性的目的.该方法在失效分析过程中具有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡伟智		9	38	5.0	5.0