用于缺陷检测的圆环孔径锥镜剪切散斑干涉法

• 作者: 陈炳泉
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 激光技术 缺陷检测 圆环孔径 锥形剪切镜 位移导数
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 42-44,60
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2226字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2007.12.009

摘要

介绍了一种利用圆环孔径和锥镜剪切散斑干涉技术检测缺陷的新方法,该方法是一种非接触式的检测方法,不受缺陷形状和位置的影响,能够准确地检测出缺陷的位置和大小.分析了圆环孔径锥镜剪切散斑干涉的基本原理,给出了散斑图全场滤波分析的平均光强解析式和实验结果.结果表明,该方法能在一张双曝光的散斑图上可同时记录物体在所有方向上的变形信息,并能连续地再现出来,散斑图的信息量丰富.在全场滤波分析时,适当选择滤波孔的位置,可得到清晰的缺陷的全场条纹图.在实时滤波分析观察时,将滤波孔连续地旋转,可观察到物体动态变形的全过程,散斑图的条纹在变化,而缺陷的位置不变,从而为缺陷检测或其它动态检测方面提供了一种新方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈炳泉	苏州大学物理系	12	48	4.0	6.0