测试重用是SOC设计的重要成份

• 作者: 吴腾奇
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 设计重使用 测试存取结构 SOC
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 产品测试与解决方案
• 页码范围: 92-93
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 2383字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2007.05.023

摘要

本文主要论述了设计重使用的重要性、标准,以及测试存取结构.