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摘要:
本文在CMOS单元电路优化中采用一种基于方程和遗传算法的优化方法.其采用描述电路行为的性能解析方程和遗传算法实现电路性能指标的优化.仿真结果表明,这种方法可以得到满意的仿真结果,同时所需的优化时间较短.
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文献信息
篇名 基于方程和遗传算法的CMOS模拟单元电路优化
来源期刊 电路与系统学报 学科 工学
关键词 单元电路优化 性能解析方程 遗传优化算法 适配度函数 电路设计参数
年,卷(期) 2007,(2) 所属期刊栏目 研究简报
研究方向 页码范围 131-134
页数 4页 分类号 TN702|TP18
字数 2905字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-0249.2007.02.030
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴建辉 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心 102 725 13.0 20.0
2 张萌 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心 57 299 8.0 14.0
3 郑维山 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心 5 30 4.0 5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
单元电路优化
性能解析方程
遗传优化算法
适配度函数
电路设计参数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电路与系统学报
双月刊
1007-0249
44-1392/TN
16开
广东省广州市
1996
chi
出版文献量(篇)
2090
总下载数(次)
5
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