陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究

• 作者: 王广甫 鲁永芳
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 外束质子荧光分析 GBW07306水系沉积物标准参考样 位置 误差
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 432-437
• 页数: 6页
• 分类号: TL5
• 字数: 3307字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2007.05.008

摘要

通过改变与陶瓷有相似成份的GBW07306水系沉积物标准样品的前后位置和角度,研究了陶瓷样品外束质子荧光(External beam proton induced X-ray emission,外束PIXE)分析中样品位置对测量结果的影响.并以此为依据分析了陶瓷样品外束PIXE定量分析对样品定位精度的要求.结果表明:在质子能量为2.5MeV、样品距离质子引出窗口12mm和质子束入射方向夹角为30°、Si(Li)探测器在80°且距离样品20mm的实验条件下,沿束流方向位置变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品定位精确度应高于±0.14mm;样品与质子束夹角变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品角度定位需精确到±1.2°.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王广甫	北京师范大学分析测试中心	45	220	7.0	13.0
2	鲁永芳	北京师范大学低能核物理研究所	8	27	3.0	5.0