通向快速数字化测试的解决方案——泰克实时频谱分析仪及其在RFID测试中的应用

• 作者: 本刊记者
• 来源期刊: 射频世界
• 学科: 工学
• 关键词: 泰克公司 数字RF技术 高速串行数据测试平台 射频识别
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 16-19
• 页数: 4页
• 分类号: TM935.21

摘要

为了更好地推进各类数字RF应用的测试工作,泰克公司举行新闻发布会,推出了AWG5000任意波形发生器。最新的AWG5000可以满足客户的需求,提高了测试效率,降低了测试成本,为各类数字RF技术的验证提供了理想的选择。泰克公司推出的超高性能DSA70000系列实时频谱分析仪和业界速度最高的多功能探头P7500,构成了新一代高速串行数据测试平台的核心。这样,数字新世界的研发工程师们将拥有更快解决难题、加速将创新推向市场的能力。泰克公司还致力于RFID测试需求的研究,将实时频谱分析仪应用于RFID测试,为RFID测试人员提供了非常方便的测试手段。