硫化对镀银铝粉/甲基乙烯基硅橡胶导电复合材料性能的影响

• 作者: 张立群 张继阳 田明 瞿雄伟 邹华
• 来源期刊: 合成橡胶工业
• 学科: 工学
• 关键词: 甲基乙烯基硅橡胶 镀银铝粉 硫化 交联 导电性能 力学性能
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 加工·应用
• 页码范围: 463-466
• 页数: 4页
• 分类号: TQ333.93
• 字数: 3812字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1255.2007.06.015

摘要

研究了硫化时间、硫化温度、交联剂及助交联剂用量对镀银铝粉/甲基乙烯基硅橡胶(MVQ)复合材料导电性能及力学性能的影响.结果表明,镀银铝粉/MVQ复合材料最佳硫化条件:一段硫化时间为硫化仪所测得的正硫化时间(14 min),二段硫化时间为4 h,硫化温度为170℃,交联剂2,5-双(叔丁基过氧化)-2,5-二甲基己烷的用量为3份,助交联剂三烯丙基异氰脲酸酯的用量为2份.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张立群	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与成型加工重点实验室	437	4704	31.0	45.0
2	田明	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与成型加工重点实验室	103	1393	22.0	32.0
3	邹华	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与成型加工重点实验室	57	375	12.0	15.0
4	瞿雄伟	河北工业大学高分子研究所	77	711	14.0	23.0
5	张继阳	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与成型加工重点实验室	3	44	2.0	3.0