多层高梯度绝缘技术研究

• 作者: 严萍 李光杰 袁伟群 高巍
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 多层高梯度绝缘技术 真空闪络 二次电子崩 小间隙 电场畸变
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 分类号: TM854
• 字数: 2254字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2007.01.012

摘要

真空中沿面闪络现象是制约真空设备耐压强度的一个重要因素,采用多层高梯度绝缘技术,比传统绝缘结构能显著提高击穿场强.介绍了该技术的研究现状,并从真空沿面闪络的二次电子崩理论入手,分析该结构对闪络过程的影响.同时,从小间隙串联的模型以及对外加电场的影响两方面,解释了多层高梯度绝缘结构可以提高绝缘性能的原因,它与公开的实验现象和结论也比较符合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严萍	中国科学院电工研究所	191	2402	27.0	36.0
2	袁伟群	中国科学院电工研究所	48	444	12.0	18.0
3	李光杰	中国科学院电工研究所	3	6	2.0	2.0
7	高巍	中国科学院电工研究所	15	111	8.0	10.0