基于ML-Ⅱ方法的k/n-系统Bayes可靠性评估

• 作者: 冯静 周经伦 孙权 程皖民
• 来源期刊: 电光与控制
• 学科: 航空航天
• 关键词: 可靠性评估 k/n-系统 Bayes 次序统计量 第二类极大似然估计
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 学术研究
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: V271.4
• 字数: 2698字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-637X.2007.01.007

摘要

n中取k系统(简称k/n-系统)是工程实践中应用最广泛的系统类型之一.为了在系统现场试验样本量很小的情况下进行可靠性评估,首先利用次序统计量推导了k/n-系统寿命分布的密度函数,并给出了模型参数的第二类极大似然估计(ML-Ⅱ估计);然后给出了k/n-系统Bayes可靠性评估的一般步骤;仿真实例表明了方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙权	国防科技大学信息系统与管理学院系统工程系	33	287	10.0	15.0
2	周经伦	国防科技大学信息系统与管理学院系统工程系	140	1986	23.0	38.0
3	冯静	国防科技大学信息系统与管理学院系统工程系	56	506	13.0	19.0
4	程皖民	国防科技大学信息系统与管理学院系统工程系	5	20	3.0	4.0