大规模集成电路相关测试标准的剖析

• 作者: 何怡刚 张洪波 方葛丰 杜社会 阳辉 陈建华
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 测试标准 信号电路
• 年，卷（期）: 2007,（9）
• 所属期刊栏目: 趋势与展望
• 页码范围: 737-741
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 4836字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2007.09.001

摘要

集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段.CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题和相关标准,包括IEEE 1149.1-1990到IEEE 1149.6-2003,IEEE 1450,IEEE 1500,IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准.总结了集成电路测试标准的特点和最新进展,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性,并对今后集成电路测试技术标准的发展给出了预测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	阳辉	湖南大学电气与信息工程学院	22	131	8.0	10.0
3	方葛丰	湖南大学电气与信息工程学院	22	248	10.0	15.0
4	杜社会	湖南大学电气与信息工程学院	3	36	3.0	3.0
5	陈建华	湖南大学电气与信息工程学院	10	38	3.0	6.0
6	张洪波	湖南大学电气与信息工程学院	2	45	2.0	2.0