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电子产品可靠性与环境试验期刊
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嵌入式软件系统测试综述
嵌入式软件系统测试综述
作者:
唐飞
林茂森
邹月和
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
嵌入式软件
实时控制
并发处理
实时约束
回归测试
测试用例
摘要:
以嵌入式软件测试过程为主线,根据嵌入式软件的特点,着重介绍了软件系统测试的概念和特点、测试的工作流程、测试环境的搭建等相关内容,讨论了系统测试的内容和测试用例技术的设计工作.
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文献信息
篇名
嵌入式软件系统测试综述
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
嵌入式软件
实时控制
并发处理
实时约束
回归测试
测试用例
年,卷(期)
2007,(5)
所属期刊栏目
综述与展望
研究方向
页码范围
52-55
页数
4页
分类号
TP31
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2007.05.014
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
唐飞
中国电子科技集团公司第三十六研究所
3
35
3.0
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2
邹月和
中国电子科技集团公司第三十六研究所
1
18
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林茂森
中国电子科技集团公司第三十六研究所
1
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引证文献(1)
二级引证文献(2)
2013(5)
引证文献(3)
二级引证文献(2)
2014(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2015(1)
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二级引证文献(2)
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引证文献(1)
二级引证文献(3)
研究主题发展历程
节点文献
嵌入式软件
实时控制
并发处理
实时约束
回归测试
测试用例
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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电子产品可靠性与环境试验2022
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电子产品可靠性与环境试验2007年第5期
电子产品可靠性与环境试验2007年第1期
电子产品可靠性与环境试验2007年第3期
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