胶片扫描法精测微米光斑

• 作者: 吴逢铁 张建荣 曾夏辉 邢笑雪
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 图像处理 贝塞耳光束 激光光束参数分析仪 滚筒扫描仪
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 测量与防护
• 页码范围: 35-36,70
• 页数: 3页
• 分类号: TN247
• 字数: 2188字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2007.01.020

摘要

为了精确测量零阶贝塞耳光束的中心亮斑半径,采用彩色反转胶片作为记录媒质,通过滚筒扫描的方法将底片上的图像转为数字图像,在对数字图像做必要的处理后,测量出氦氖激光的零阶贝塞耳光束的中心光斑半径为16.77 μm±0.01 μm,与理论计算值15.16 μm吻合良好.实验结果表明,采用胶片测量微米量级的光斑具有高精度、低成本,可测截面面积大的优点,在1 Hz超短脉冲实验中,可以替代甚至超越了常规的激光光束分析仪.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴逢铁	华侨大学信息科学与工程学院	145	666	15.0	18.0
2	张建荣	华侨大学信息科学与工程学院	9	58	4.0	7.0
3	邢笑雪	华侨大学信息科学与工程学院	6	39	3.0	6.0
4	曾夏辉	华侨大学信息科学与工程学院	6	70	4.0	6.0