纳米粒子对聚酰亚胺薄膜电晕老化形态的影响

• 作者: 刘斌 姜其斌 施杰 李鸿岩
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 纳米粒子 电晕 老化 聚酰亚胺 薄膜
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 性能研究
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TM215.3|TQ323.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2007.05.013

摘要

为了研究无机纳米氧化物在提高聚合物耐电晕性能方面所起的作用,采用高分辩率光学显微镜比较了聚酰亚胺(PI)薄膜和纳米Al2O3填充聚酰亚胺薄膜在相同条件下的老化形貌,发现纯PI表面老化形态早期为山谷状,随着时间的延长山谷的深度增加,最终形成凹坑;而PI-Al2O3复合薄膜则呈浅凹坑状,随着老化的进行最终发展成浅的由纳米粒子组成的蜂窝状孔洞,且老化速度显著降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘斌	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	82	1223	22.0	31.0
2	姜其斌		123	1035	15.0	26.0
3	施杰	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	2	22	2.0	2.0
4	李鸿岩		47	323	9.0	15.0