曲面断层片在评价下颌骨生长发育时下颌骨线性指标的作用

• 作者: 仇玲玲 杨力 王邦康
• 来源期刊: 北京口腔医学
• 学科: 其他
• 关键词: 全颌曲面断层片 头颅后前位片 下颌骨线距测量
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 基础研究
• 页码范围: 81-83
• 页数: 3页
• 分类号: Z783.5
• 字数: 2804字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-673X.2007.02.006

摘要

目的 研究在X线全颌曲面断层片和头颅后前位片上下颌骨线距测量项目的相关性,探讨曲面断层片定量分析评价下颌骨发育的应用价值.方法 选取同一技师同时期拍摄的52例患者的全颌曲面断层片和头颅后前位X片,分别测量左右侧下颌骨升支高度、下颌体长度、下颌综合长度,对测量结果进行统计分析.结果 下颌骨升支高度和下颌综合长度在X线全颌曲面断层片和头颅后前位片上测量值间有明显相关性,而下颌体长度两测量值间尚未见明显相关性.结论 在严格控制拍摄条件下,曲面断层片可以进行下颌骨线性指标的测量来评价下颌骨生长发育.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	仇玲玲		6	37	4.0	6.0