杂质吸收对光子晶体缺陷模偏振态的影响

• 作者: 刘启能
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 物理学
• 关键词: 光子晶体 特征矩阵 消光系数 缺陷模 偏振态
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 815-818
• 页数: 4页
• 分类号: O436
• 字数: 2221字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2007.06.017

摘要

引入复折射率并利用特征矩阵法,研究了杂质的吸收对TE波和TM波缺陷模透射峰的影响.得出:杂质的消光系数对TE波和TM波的缺陷模透射峰都有显著的影响,但对TE波缺陷模的影响比对TM波缺陷模的影响更为明显.当消光系数一定时,TE波的缺陷模透射峰随入射角的增大而迅速减小,而TM波的缺陷模透射峰随入射角的增大而增大.利用这一特性可以设计光子晶体偏振滤波器.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘启能	重庆工商大学理学院	169	1028	19.0	24.0