海底表层底质探测系统测试仪的设计

• 作者: 吴炳昭 许枫
• 来源期刊: 海洋测绘
• 学科: 地球科学
• 关键词: 表层底质 探测 测试仪 性能测试
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 技术报告
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: P24
• 字数: 2734字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-3044.2007.02.014

摘要

海底表层底质探测系统是一种新型的声学探测设备,它利用声学信号实时走航式地遥测海底的表层底质.本测试仪用于在试验室条件下对海底表层探测系统性能的测试.由于该测试仪在设计过程中充分考虑到了目前测深仪的情况,所以也可以用于测深仪的性能测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许枫	中国科学院声学研究所	51	355	9.0	17.0