BIT技术在装备全寿命费用中影响分析

• 作者: 刘晓东 张政霞 赵秀丽 赵英杰
• 来源期刊: 海军航空工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: BIT LCC 装备
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 196-198
• 页数: 3页
• 分类号: TP333.93
• 字数: 2494字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1522.2007.01.024

摘要

通过对BIT(Build in test,机内测试)技术在LCC(Life Cycle Costs,全寿命费用)中的影响分析,建立采用BIT技术后的LCC增量模型,研究了采用BIT技术对装备的全寿命费用产生的影响.同时基于国外现状,分析现今国内的情况,阐明采用BIT技术将在节约装备全寿命费用产生良性的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵秀丽	海军航空工程学院兵器科学与技术系	30	149	7.0	11.0
2	张政霞	海军航空工程学院兵器科学与技术系	1	0	0.0	0.0