光耦的可靠性测试方法和试验

• 作者: 高志刚
• 来源期刊: 现代显示
• 学科: 工学
• 关键词: 光耦 可靠性 脉冲电流
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: TN622
• 字数: 2735字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-6268.2007.10.013

摘要

介绍了调相型(过零)光耦可靠性试验的几种方法和试验数据,尤其是对调相型光耦的脉冲电流冲击试验做了详细的描述.同时提示大家如何选择可靠性较高的光耦.最后,列举了一个典型的实验,说明了光耦可靠性的重要性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高志刚		4	13	2.0	3.0