原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的方法研究

• 作者: 张锐 金雨琴 闫军 高峰
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 学科: 工学
• 关键词: 原子荧光光谱法 电子电气产品 铬(Ⅵ) 方法研究
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 电子信息产品污染控制专题
• 页码范围: 20-24
• 页数: 5页
• 分类号: TP3
• 字数: 2937字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2007.03.009

摘要

应用原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的含量,可适应RoHS中各种复杂样品的检测以及改善样品消解等诸多实际问题.其相对标准偏差(RSD):2.03%;检出限:0.064 6 mg/L;线性范围宽,校准曲线的线性相关系数应大于0.999等.有效地将铬(Ⅵ)、铬(Ⅲ)分离,并有效地消除基体干扰等,完全能够适应电子电气产品中铬(Ⅵ)的测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高峰		41	214	8.0	13.0
2	闫军		9	79	5.0	8.0
3	金雨琴		5	21	3.0	4.0
4	张锐		3	57	3.0	3.0