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摘要:
本文针对半导体集成电路生产筛选、试验和检验,对比列出了上个世纪8 0年代到如今,生产厂家常用的IC行业标准、国家标准和国家军用标准的有关主要内容,说明了IC标准技术和试验(包括设备)要求的提高以及标准应用的发展,提出了生产单位建立有效的生产筛选和质量一致性检验的自己的IC产品技术质量标准以及其应用系统计算机化的构想.
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文献信息
篇名 半导体集成电路(IC)产品标准的应用
来源期刊 电子质量 学科 经济
关键词 民用、工业用、军用 标准的范围和时效 标准的应用 计算机管理及计算机试验系统
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目 认证与标准
研究方向 页码范围 53-57
页数 5页 分类号 F4
字数 3092字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.01.019
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研究主题发展历程
节点文献
民用、工业用、军用
标准的范围和时效
标准的应用
计算机管理及计算机试验系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
广州市五羊新城广兴花园32号一层
46-39
1980
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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